शोधकर्ताओं ने विकसित किया है एक नई बहु बीम विधि के संचालन के लिए CT स्कैन करता है कि छवि गुणवत्ता में सुधार whilst के तेजी से काटने के लिए आवश्यक समय के लिए एक millisecond.
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